UBM/Cu-Ti 成套种子层蚀刻液
半导体及封装蚀刻/显影

SE-UBM

UBM/Cu-Ti 成套种子层蚀刻液

UBM 种子层成套蚀刻(铜蚀刻 + 钛蚀刻双液)

技术描述

UBM/Cu-Ti 成套种子层蚀刻液(SE-UBM)是圣普化学面向先进封装 UBM场景开发的蚀刻/显影产品——用于精密图形化加工的蚀刻/显影化学品。技术性能对标芝普,提供国产化替代方案。核心卖点:UBM 种子层成套蚀刻(铜蚀刻 + 钛蚀刻双液)。

主要适用材质/对象:先进封装 UBM。

服务于半导体制造与先进封装产线的良率与洁净度需求。

产品简介

UBM/Cu-Ti 成套种子层蚀刻液(SE-UBM)是圣普化学面向先进封装 UBM开发的蚀刻/显影产品。产品核心优势:UBM 种子层成套蚀刻(铜蚀刻 + 钛蚀刻双液)。技术上对标芝普,提供国产化替代选择。产品特点:双液分步蚀刻设计(铜蚀刻液 + 钛蚀刻液)——铜走氧化+酸溶路线,钛走氧化剂+含氟助剂路线,两类体系互斥,必须分步蚀刻,对玻璃基材蚀刻近零(称重无失重),钛蚀刻液不含高毒含氟酸,仅以微量含氟助剂催化反应。典型工艺:铜蚀刻:30-40°C 浸泡/喷淋 40-90s(1μm Cu)→ 立即 DI 水溢流冲洗,钛蚀刻:30-40°C 浸泡 1-2min(钛层蚀净,玻璃露出即停)→ DI 水冲洗 ×3,两步之间必须 DI 冲洗干净。

产品参数速览

对标竞品
芝普
适用场景
先进封装 UBM
适用材质
先进封装 UBM

产品特点

双液分步蚀刻设计(铜蚀刻液 + 钛蚀刻液)——铜走氧化+酸溶路线,钛走氧化剂+含氟助剂路线,两类体系互斥,必须分步蚀刻,对玻璃基材蚀刻近零(称重无失重),钛蚀刻液不含高毒含氟酸,仅以微量含氟助剂催化反应

工艺参数与使用说明

铜蚀刻:30-40°C 浸泡/喷淋 40-90s(1μm Cu)→ 立即 DI 水溢流冲洗,钛蚀刻:30-40°C 浸泡 1-2min(钛层蚀净,玻璃露出即停)→ DI 水冲洗 ×3,两步之间必须 DI 冲洗干净

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